GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法 现行

标准号：GB/T 5594.8-2015
中文标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
英文标准名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8: Test method for microstructure
标准状态：现行,发布于2015-05-15; 实施于2016-01-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2015-05-15
实施日期：2016-01-01
中国标准分类号：31-030
国际标准分类号：31-030
归口单位：工业和信息化部（电子）
执行单位：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所;江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司;中国电子技术标准化研究院
全部替代标准：GB/T 5594.8-1985
相近标准：GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定; 20065764-T-339 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法; GB/T 5594.7-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法; GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法; GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料; GB/T 5593-1996 电子元器件结构陶瓷材料; 20061562-T-339 电子元器件结构陶瓷材料; GB/T 5594.6-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法; GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法; 20061563-T-339 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法