GB/T 14620-2013 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 现行

标准号：GB/T 14620-2013
中文标准名称：薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
英文标准名称：Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
标准状态：现行,发布于2013-11-12; 实施于2014-04-15; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2013-11-12
实施日期：2014-04-15
中国标准分类号：31.030
国际标准分类号：31.030
归口单位：工业和信息化部（电子）
执行单位：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国电子技术标准化研究院
全部替代标准：GB/T 14620-1993
相近标准：20065760-T-339 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片; GB/T 14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片; GB/T 14619-2013 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片; 20065765-T-339 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片; GB/T 14619-1993 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片; SJ/T 10243-1991 微波集成电路用氧化铝陶瓷基片; GB/T 39863-2021 覆铜板用氧化铝陶瓷基片; 20141703-T-609 覆铜板用氧化铝陶瓷基片; JC/T 2521-2019 氧化铝陶瓷过滤器; JC/T 2209-2014 氧化铝陶瓷衬板耐磨管件