GB/T 23414-2009 微束分析 扫描电子显微术 术语 现行

标准号：GB/T 23414-2009
中文标准名称：微束分析 扫描电子显微术 术语
英文标准名称：Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
标准状态：现行,发布于2009-04-01; 实施于2009-12-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2009-04-01
实施日期：2009-12-01
中国标准分类号：37.020;01.040.37
国际标准分类号：37.020;01.040.37
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
执行单位：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所
采标情况：本标准等同采用ISO国际标准：ISO 22493:2008。
采标中文名称:微束分析 扫描电子显微术 术语。
相近标准：20067089-T-469 微束分析 扫描电子显微术 术语; GB/T 33834-2017 微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法; 20131706-T-469 微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法; GB/T 33838-2017 微束分析 扫描电子显微术 图像锐度评估方法; 20131707-T-469 微束分析 扫描电子显微术 图像锐度评估方法; 微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法; 20193203-T-469 微束分析 分析电子显微学 术语; 微束分析 分析电子显微学 术语; JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则; SY/T 5162-2014 岩石样品扫描电子显微镜分析方法