GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 现行

标准号：GB/T 14031-1992
中文标准名称：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
英文标准名称：General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
标准状态：现行,发布于1992-12-17; 实施于1993-08-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：1992-12-17
实施日期：1993-08-01
中国标准分类号：31.200
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：上海元件五厂
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