GB/T 6570-1986 微波二极管测试方法 废止

标准号：GB/T 6570-1986
中文标准名称：微波二*管测试方法
英文标准名称：Measuring methods for microwave diodes
标准状态：废止,发布于1986-07-22; 实施于1987-07-01; 废止于2004-10-14
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：1986-07-22
实施日期：1987-07-01
中国标准分类号：31.080.10
国际标准分类号：31.080.10
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：电子部25所
采标情况：本标准非等效采用IEC国际标准：IEC 147-2:1978。
采标中文名称:。
相近标准：JB/T 7624-2013 整流二*管测试方法; JB/T 7624-1994 整流二*管测试方法; SJ/T 11767-2020 二*管低频噪声参数测试方法; SJ/T 11471-2014 发光二*管外延片测试方法; SJ/T 2354-2015 ＰＩＮ、雪崩光电二*管测试方法; SJ/T 2749-2016 半导体激光二*管测试方法; SJ/T 11394-2009 半导体发光二*管测试方法; SJ/T 11399-2009 半导体发光二*管芯片测试方法; SJ/T 11281-2017 发光二*管(LED)显示屏测试方法; SJ/T 11281-2007 发光二*管（LED）显示屏测试方法