标准号：GB/T 4326-2006
中文标准名称：非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
英文标准名称：Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
标准类型：H17
发布日期：2006/7/18 12:00:00
实施日期：2006/11/1 12:00:00
中国标准分类号：H17
国际标准分类号：77.040.01
适用范围： 本标准规定的测量方法适用于测量非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。 本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓和磷化镓单晶材料进行了实验室测量，但该方法也可适用于其他半导体单晶材料，一般情况下，适用于室温电阻率高达10
GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
百检网 2021-07-13
百检能给您带来哪些改变？
1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；
2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；
3、工程师一对一服务，让检测更精准；
4、免费初检，初检不收取检测费用；
5、自助下单 快递免费上门取样；
6、周期短，费用低，服务周到；
7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；
8、检测报告权威有效、中国通用；
客户案例展示
版权与免责声明
①本网注名来源于“互联网”的所有作品，版权归原作者或者来源机构所有,如果有涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一个月内与本网联系，联系邮箱service@baijiantest.com，否则视为默认百检网有权进行转载。
②本网注名来源于“百检网”的所有作品，版权归百检网所有，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。想要转载本网作品，请联系:service@baijiantest.com。已获本网授权的作品，应在授权范围内使用，并注明"来源：百检网"。违者本网将追究相关法律责任。
③本网所载作品仅代表作者独立观点，不代表百检立场，用户需作出独立判断，如有异议或投诉，请联系service@baijiantest.com
最新资讯
客服热线
400-101-7153
专属服务：156 0190 2607
企业邮箱： service@baijiantest.com