GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

百检网 2021-07-19
标准号:GB/T 5594.5-1985
中文标准名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
英文标准名称:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for volume resistivity
标准类型:L32
发布日期:1985/11/27 12:00:00
实施日期:1986/12/1 12:00:00
中国标准分类号:L32
国际标准分类号:31.030
适用范围: 本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定。

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