标准号：GB/T 33657-2017
中文标准名称：纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
英文标准名称：Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells
标准状态：现行
标准类型：国家标准
发布日期：2017/5/12 12:00:00
实施日期：2017/12/1 12:00:00
中国标准分类号：宋志棠
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会
主管部门：中国科学院
起草单位：中国科学院上海微系统与信息技术研究所
起草人：陈一峰
相近标准：20120937-T-491 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范;GB/T 33715-2017 纳米
GB/T 33657-2017 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范 现行
百检网 2021-07-19
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