标准号：IEC60749-32-2002(已作废)
中文标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第32部分：塑料包封器件的可燃性(外部诱发)
英文标准名称：Semiconductordevices?Mechanicalandclimatictestmethods?Part32:Flammabilityofplastic-encapsulateddevices(externallyinduced)Dispositifs?semiconducteurs?Méthodesd'essaismécaniquesetclimatiques?Partie32:Inflammabilit?desdispositifs?encapsulationplastique(casd'
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
IEC60749-32-2002(已作废) 半导体器件机械和气候试验方法第32部分：塑料包封器件的可燃性(外部诱发)
百检网 2021-07-23
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