BS EN 2591-220-2005 航空航天系列.电和光学连接元件.试验方法.电流和温度周期性变化引起的触点/导体接头老化

标准号：BS EN 2591-220-2005
中文标准名称：航空航天系列.电和光学连接元件.试验方法.电流和温度周期性变化引起的触点/导体接头老化
英文标准名称：Elements of electrical and optical connection — Test methods — Part 220: Contact/conductor joint ageing by current and temperature cycling
标准类型：V25
发布日期：2006/2/10 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：V25
国际标准分类号：49.060
引用标准：EN 2591-100;EN 2591-202;EN 2591-417;EN 3155
适用范围：This standard specifies a method to demonstrate the long term electrical stability of the conductor to contactjoint in the EN 3155 series of product standards. The thermal cycling test is carried out using a combination ofconductor current and “ambient” heat to achieve the appropriate maximum rated operating temperature.It shall be used together with EN 2591-100.