YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

标准号：YS/T 666-2008
中文标准名称：工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
英文标准名称：Chemical analysis methods of gallium for industrial use.Determination of impurity elements.Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
标准类型：H12
发布日期：2008/3/12 12:00:00
实施日期：2008/9/1 12:00:00
中国标准分类号：H12
国际标准分类号：77.120.99
适用范围：本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。本标准适用于工业镓[99.9%≤ω（%）≤99.995%]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。测定范围见表1。