标准号：20182264-T-339
中文标准名称：集成电路CMOS图像传感器测试方法
英文标准名称：Test methods for CMOS intergrated circuits image sensor
标准状态：正在审查
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：天津大学
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
起草人：李俊霖
相近标准： 集成电路CMOS图像传感器测试方法;SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理;SJ/
标准制修订：制订
20182264-T-339 集成电路CMOS图像传感器测试方法 正在审查
百检网 2021-08-05
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