KS D ISO 19319-2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测

百检网 2021-08-05

标准号：KS D ISO 19319-2005
中文标准名称：表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
英文标准名称：Surface chemical analysis－Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy－Determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyzer
标准类型：G04
发布日期：2005/12/28 12:00:00
实施日期：2005/12/28 12:00:00
中国标准分类号：G04
国际标准分类号：71.040.40
适用范围： 이 규격은 오제(Auger) 전자 분광법과 X선 광전자 분광법으로 측정한 (1)측면 분해

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