60749-7-2011 60749-7-2011 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 7: In

百检网 2021-08-19

标准号：60749-7-2011
中文标准名称：60749-7-2011 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (Edition 2.0)
英文标准名称：Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes essais mécaniques et climatiques – Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels (Edition 2.0)
发布日期：2011-06-01
实施日期：2011-06-20

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