标准号：NF C96-051-2006
中文标准名称：NF C96-051-2006 金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
英文标准名称：Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).
发布日期：2006-10-01
实施日期：2006-10-20
中国标准分类号：L42
国际标准分类号：31.080.30
NF C96-051-2006 NF C96-051-2006 金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
百检网 2021-08-20
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