标准号：GB/T 32651-2016
中文标准名称：采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
英文标准名称：Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry
标准状态：现行
中国标准分类号:(CCS)H82
标准分类号:(ICS)29.045
发布日期:2016-04-25
实施日期:2016-11-01
主管部门:标准化管理委员会
归口单位:半导体设备和材料标准化技术委员会
主要起草单位
太阳能光伏产品质量监督检验中心(无锡市产品质量监督检验中心) 、江苏中能硅业科技发展有限公司 、硅材料深加工产品质量监督检验中心 、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司 、中国电子技术标准化研究院 。
主要起草人
何莉 、吴建国 、王琴 、周滢 、刘晓霞 、鲁文锋 、陈进 、封丽娟 、李建德 、黄雪雯 、孙绍武 、冯亚彬 、裴会川 。
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