原子力显微镜测试

        Bruker Dension lcon系列作为布鲁克公司(Bruker AXS)原子力显微镜的旗舰产品，凝聚了多项行业**的技术，是二十多年技术创新、客户反馈和行业应用的结晶。Dimension lcon的出现为科学和工业界在纳米尺度的研究带来了革命性的**之作。Dimension lcon可以实现所有主要的扫描探针成像技术，其测试样品尺寸可达:直径210mm，厚度15mm。温度补偿位置传感器使Z-轴和X-Y轴的噪音分别保持在亚-埃级和埃级水平，并呈现出****的高分辨率。对于大样品、90微米扫描范围的系统来说，这种噪音水平超越了所有的开环扫描高分辨率的原子力显微镜。全新的XVZ闭环扫描头在不损失图像质量的前提下大大提高了扫描速度。探针和样品台的开放式设计使lcon可胜任各种标准和非标准的实验。Dimension lcon的硬件和软件*大程度的利用了先进的布鲁壳AFM的模式和技术，如高次谐波共振模式等。并且独有的不失真高温成像技术采用对针尖和样品同时加热的方法，*大程度减少针尖和样品之间的温差,避免造成成像失真。Dimension lcon可广泛应用于材料科学，物理，化学，微电子，生命科学等领域和学科。

应用范围

形貌分析：通过原子力显微镜我们可获得纳米材料、高分子材料、生物样品、金属材料、陶瓷材料、薄膜材料表面形貌信息。

高度及粗糙度分析：通过原子力显微镜可以获得各种材料表面的起伏度信息、粗糙度信息、高度信息。

性能分析：通过原子力显微镜可对材料的力学性能、电学性能、磁学性能、摩擦力、阻抗性能进行表征。

检测案例

零维纳米材料:量子点检测案例

二维纳米材料:石墨烯检测案例

薄膜材料检测案例

送样要求

粉末样品:样品量≥10mg.

液体样品:样品量≥1ml。

块体样品:样品尺寸≤1cm*1cm(能支持的*大样品尺寸20cm，样品较大时请提前联系)。

测试说明：

1.样品粗糙度或者粒径尽量不要超过 1um，含有较多有机杂质的需要提纯处理，否则影响测试。
2.测试原子力前*好先用扫描电镜或透射电镜进行筛选，并提供相关的参考图片。
3.C-AFM PFM KPFM测试要求样品必须导电。
4.导电性能测试(C-AFM)：可同时得到样品形貌和电流分布图，也可进行选区I-V曲线测试。
5.表面电势测试(AFM-SKPFM): 可对样品表面电荷进行半定性表征，能直接测量探针和样品之间的电势差。
6.压电力测试(AFM-PFM)：可得到材料的静态电畴结构、电畴反转行为、慢弛豫过程、微区电滞回线等信息。
7.磁学性能测试(AFM-MFM)：可得到样品微区磁畴的分布。
8.力学性能测试(AFM-QNM)：可通过拟合力学曲线得到样品的杨氏模量，得到微区的杨氏模量分布，适用于较软样品**纳米力学成像模式，可对有机物，高分子以及金属材料进行扫描，同时得到形貌和模量分布。