金属化学成分分析-X射线荧光法
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。
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适用范围 镀层 底材 测定范围 Zn Fe 0.02-45μm Ni Fe 0.02-30μm Cu Fe 0.02-30μm Cr Fe 0.02-20μm Ni/Cu Fe Ni0.02-10μm Ni/Cu Fe Cu0.1-20μm 检测周期 一般4-7个工作日出报告，有加急服务。 检测价格 尽力提供价格优惠*佳解决方案。公司遵守适度利润+与客户共赢的理念，优质服务+诚信检测为您创见更高价值。 百检网检测报告的作用 1、在产品销售或采购时，帮助交易双方增进信任，促进成交； 2、在工程或项目投标时，证明产品质量； 3、在争议仲裁，通过技术判断协助区分各方责任； 4、在工艺改进或科研时，利用数据分析，查找问题根源。 | |||||||||||||||||||||
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检测参数 镀层厚度 可试验样品 镀锌板材、电镀锌紧固件、铁基镀镍试样、铁基镀铜、铁基镀铬、铁基镀镉等 认可的方法标准 ISO 3497、ASTM B568 |
