仪器 |
配置及技术参数 |
应用及特色项目 |
扫描电镜SEM |
主要配置: EDS:布鲁克30mm双探测器(分辨率123eV); EBSD:定向背散射电子探测器; 高分辨红外CCD; 气体二次电子探测器; 超高真空系统;高真空/低真空/环 境真空系统,压差光镧。 抛光机;切割机;脆断/冷镶设备; 打磨机 技术参数: 支持环境模式; 分辨率:环境扫描电子显微镜:3-8nm 冷场扫描电子显微镜:0.8-1.2nm |
物质的形貌0/尺寸分析、膜层分析、EDS元素分析(定性、定量、线分布、面分布、
超级面分布)、活体细胞观察、失效分析、金相分析等。广泛用于材料、化学、
生物、医学、地质等各类领域 |
透射电镜TEM |
主要配置: 单球差校正器; EDS:INCA能谱仪 离子减薄,激光超薄切片机。 技术参数: 分辨率:亚Å级 |
物质的形貌/尺寸观察、电子衍射图片,二维晶格面、明/暗场图片、元素分析 (定性、定量、线分布、面分布、超级面分布)。广泛用于材料、化学、生物、 医学、地质等各类领域 |
原子力显微镜AFM |
分辨率:分辨率0.1nm 台阶0.3nm-500nm |
物质的表面形貌成像、镜片/磁盘分析、表面粗糙度、纹理质量 |