半导体性能表征系统

百检网 2021-11-11

4200-SCS型半导体特性分析系统可用于实验室级的半导体材料与器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有fA级的电流分辨率。该系统提供了先进的系统集成能力，包括完整的嵌入式PC机、Windows NT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程。本系统配有2个独立源测量单元。

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