详细信息
主要技术指标：
在数字测试通道数方面：具有高度可扩展性，，可从128 通道扩展至4096 通道(以128 通道为*小扩展单位)。 数字测试速度：具有从100M~1600M 数据率根据要求升级，无需更换板卡 支持多种测试速度的数字通道板卡混插，各类丰富的模拟测试模块可供选择的模拟测试。
主要功能：
1：超大规模集成电路芯片的测试，包括package和晶圆测试，处理器芯片 2：高速芯片的测试，如HDMI，USB，SATA，PXI，SERDES，电视/网络设备/硬盘设备接口芯片 3：大规模系统级芯片的测试，包含各种IP，如memory单元，高速模拟单元，射频单元，高速接口单元。 4：超大电流类网络芯片的测试，网络基站类通讯芯片 5：可用于高速/高精度 ADC/DAC测试
