X-射线衍射仪

服务领域： 材料, 技术指标： 扫描方式：θ/θ联动； 测量角度范围：0.4～150o； 精度：0.01°； 角度重现性：0.0001 o； 光学编码器技术：1500线； *小步长：0.0001°； 环境气氛：氧化，还原，惰性； 温度范围：室温～900℃ 生产厂商： 德国布鲁克公司 仪器国别： 启用时间： 2005-09-01 仪器认证： 安放地点： 7号楼101室 主要用途： 研究 主要附件及功能： “HRK 900”型原位池；NaI晶体闪烁计数器；探测器：半导体固体（Si(Li)）；万特（VANTEC-1） 功能：物相的定性和定量分析； 晶粒大小尺寸、结晶度测定； 指标化、晶胞参数测量及结构分析；不同温度、压力、气氛下样品的结构变化。