标准号：GB/T 4937.3-2012 IEC 60749-3:2002
检测标准/方法：半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检 GB/T 4937.3-2012 IEC 60749-3:2002
检测对象：电子元器件
检测项目/参数：外部目检
说明（限制范围）：只测：放大倍率
7.5倍～ 150倍
GB/T 4937.3-2012 IEC 60749-3:2002
百检网 2022-08-15
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