标准简介
本标准规定了半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要特性的测量方法。 本标准适用于半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要性能的测量。英文名称：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
标准状态：现行
替代情况：GB/T 8992-1988 GB/T 11685-1989
中标分类：能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F80核仪器与核探测器综合
ICS分类：能源和热传导工程>>核能工程>>27.120.01核能综合
发布部门：国防科学技术工业委.
发布日期：2003-07-07
实施日期：2004-01-01
出版日期：2004-04-09
页数：26页
前言
核仪器与核探测器综合相关标准
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