标准简介
本标准规定了电子测量仪器在新产品设计的草样阶段，应该进行设计余量与模拟误用试验。本标准适用于所有环境组别的电子测量仪器。英文名称：Design margin and abuse tests for electronic measuring instruments
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 13166-2018代替
中标分类：电子元器件与信息技术>>电子测量与仪器>>L85电子测量与仪器综合
ICS分类：计量学和测量、物理现象>>电学、磁学、电和磁的测量>>17.220.20电和磁量值的测量
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1991-09-03
实施日期：1992-05-01
作废日期：2019-01-01
出版日期：2004-08-10
页数：平装16开， 页数：4， 字数：4千字
前言
电子测量与仪器综合相关标准
