标准简介
本标准规定了非掺杂半绝缘砷化镓单晶及其晶片深能级EL2浓度红外吸收测试方法。本标准不适用于掺铬半绝缘砷化镓试样深能级EL2浓度测定。英文名称:Test method for deep level EL2 concentration of undoped semi-insulating monocrystal gallium arsenide by measurement infrared absorption method
标准状态:作废
替代情况:SJ 3249.4-1989;被GB/T 17170-2015代替
中标分类:冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类:电气工程>>29.045半导体材料
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1997-01-02
实施日期:1998-08-01
作废日期:2016-07-01
出版日期:2004-04-12
页数:平装16开, 页数:7, 字数:9千字
前言
金属物理性能试验方法相关标准