标准简介
本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关电参数测试的基本原理。模拟开关与CMOS电路相同的静态参数和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》。英文名称：General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 14028-2018代替
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1992-01-02
实施日期：1993-08-01
作废日期：2018-08-01
出版日期：2004-08-13
页数：平装16开， 页数：19， 字数：34千字
前言
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