标准简介
本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Determination of microstructure
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 5594.8-2015代替
中标分类：>>>>L32
ICS分类：31.030
发布部门：国家标准局
发布日期：1985-01-01
实施日期：1986-01-02
作废日期：2016-01-01
出版日期：1986-01-02
页数：3页
前言
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