标准简介
GB/T2951的本部分规定了配电及通信用电缆和光缆,包括船舶及近海用电缆和光缆的聚合物绝缘和护套材料的试验方法。这些试验方法适用于聚烯烃绝缘和护套。英文名称：Common test methods for insulating and sheathing materials of electric and optical cables—Part 42:Methods specific to polyethylene and polypropylene compounds—Tensile strength and elongation at break after conditioning at elevated temperature—Wrapping
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 2951.9-1997
中标分类：电工>>电工材料和通用零件>>K13电缆及其附件
ICS分类：电气工程>>29.060电线和电缆
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2008-06-26
实施日期：2009-04-01
出版日期：2009-04-01
页数：16页
前言
GB/T2951《电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法》分为10个部分:---第11部分:通用试验方法---厚度和外形尺寸测量---机械性能试验;---第12部分:通用试验方法---热老化试验方法;---第13部分:通用试验方法---密度测定方法---吸水试验---收缩试验;---第14部分:通用试验方法---低温试验;---第21部分:弹性体混合料专用试验方法---耐臭氧试验---热延伸试验---浸矿物油试验;---第31部分:聚氯乙烯混合料专用试验方法---高温压力试验---抗开裂试验;---第32部分:聚氯乙烯混合料专用试验方法---失重试验---热稳定性试验;---第41部分:聚乙烯和聚丙烯混合料专用试验方法---耐环境应力开裂试验---熔体指数测量方法---直接燃烧法测量聚乙烯中碳黑和/或矿物质填料含量---热重分析法(TGA)测量碳黑含量---显微镜法评估聚乙烯中碳黑分散度;---第42部分:聚乙烯和聚丙烯混合料专用试验方法---高温处理后抗张强度和断裂伸长率试验---高温处理后卷绕试验---空气热老化后的卷绕试验---测定质量的增加---长期热稳定性试验---铜催化氧化降解试验方法;---第51 部分:填充膏专用试验方法---滴点---油分离---低温脆性---总酸值---腐蚀性---23 ℃时的介电常数---23 ℃和100 ℃时的直流电阻率。本部分为GB/T2951的第42部分。本部分等同采用IEC60811-4-2:2004《电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 第4-2部分:聚乙烯和聚丙烯混合料专用试验方法---高温处理后抗张强度和断裂伸长率试验---高温处理后卷绕试验---空气热老化后的卷绕试验---测定质量的增加---长期热稳定性试验---铜催化氧化降解试验方法》(英文版)。为便于使用,本部分做了下列编辑性修改:---用第42部分代替第4��2部分;---用小数点.代替作为小数点的,;---删除国际标准的前言;---本部分1.2引用了采用国际标准的我国标准而非国际标准;---本部分在IEC60811-4-2原文第4章未与IEC60811-4-2的标准名称中增加的和光缆相协调处增加了光缆。本部分代替GB/T2951.9-1997《电缆绝缘和护套材料通用试验方法 第4部分:聚乙烯和聚丙烯混合料专用试验方法 第2节:预处理后断裂伸长率试验---预处理后卷绕试验---空气热老化后的卷绕试验---测定质量的增加 附录A:长期热稳定性试验 附件B:铜催化氧化降解试验方法》。本部分与GB/T2951.9-1997相比主要变化如下:---本部分名称修改为:电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 第42部分:聚乙烯和聚丙烯混合料专用试验方法---高温处理后抗张强度和断裂伸长率试验---高温处理后卷绕试验---空气热老化后的卷绕试验---测定质量的增加---长期热稳定性试验---铜催化氧化降解试验方法;---与本部分名称相对应,英文名称修改为:Commontestmethodsforinsulatingandsheathingmaterialsofelectricandopticalcables-Part42:Methodsspecifictopolyethyleneandpoly�瞤ropylenecompounds-Tensilestrengthandelongationatbreakafterconditioningatelevat�瞖dtemperature-Wrappingtestafterconditioningatelevatedtemperature-Wrappingtestafterthermalageinginair�瞞easurementof massincrease-Long�瞭erm stabilitytest-Testmethodforcopper�瞔atalyzedoxidativedegradation;---第1 章标题范围修改为概述,之下分为两条,1.1范围,新增1.2规范性引用文件(1997版的第1章;本版的第1章);---前版标准的第4 章定义变更为本版的第2 章术语和定义(1997 版的第4 章;本版的第2章);---前版标准的第3章适用范围变更为本版的第4章,并增加了光缆(1997版的第3章;本版的第4章);---第8章标题由预处理后的断裂伸长率变更为高温处理后的抗张强度和断裂伸长率(1997版第8章;本版的第8章);---8.1中绝缘厚度小于0.8mm变更为绝缘厚度大于0.8mm,并增加了和直接接触填充膏的聚烯烃护套(1997版8.1;本版的8.1);---8.2标题由预处理步骤变更为处理步骤;填充膏预热温度的允许偏差由±1 ℃修改为±2 ℃;增加了关于滴点定义的注;补充了对护套试样处理的陈述(1997版8.2;本版的8.2);---前版标准中8.3、8.4和8.5合并为本版的8.3高温处理后的抗张强度和断裂伸长率(1997版8.3、8.4和8.5;本版的8.3);---前版标准中8.6试验结果评定变更为本版的8.4(1997版8.6;本版的8.4);---第9章标题由预处理变更为高温处理(1997版第9章;本版的第9章);---9.1关于试样绝缘厚度范围的规定由小于0.8 mm修改为小于或等于0.8 mm(1997 版9.1;本版的9.1);---新增了试样处理步骤的9.2,其后条文编号顺延(1997版无;本版的9.2);---9.3与等同于2004版IEC60811��4��1的GB/T2951.41中第9章相适应,试样卷绕试验的方法改为引用本部分的10.5.2,并对发泡绝缘明确了包括带皮泡沫绝缘(1997版9.2;本版的9.3);---9.4中对于如果有一个试件开裂,试验可再重复一次的规定,明确了试验仅可再重复一次(1997版9.3;本版的9.4);---10.1关于试样绝缘厚度范围的规定由小于0.8 mm修改为小于或等于0.8 mm(1997版10.1;本版的10.1);---10.4明确试样放入试验箱时试验箱应已预热(1997版10.4;本版的10.4);---10.5拆分为两条下级条文10.5.1和10.5.2。在10.5.2 中增加规定了试样卷绕圈数为10圈,并明确试样放入试验箱时试验箱应已预热(1997版10.5;本版的10.5);---11.3中填充膏预热温度的允许偏差由±1 ℃修改为±2 ℃,并增加了关于填充膏滴点定义的注(1997版11.3;本版的11.3);---增加A.2章条件处理,其后章的编号顺延(1997版无;本版的第A.2章);---A.3.3中读数分辨至0.2 ℃修改为0.1 ℃,增加了总的测量不确定度不超过0.2 ℃的规定(1997版A2.3;本版的A.3.3);---A.5.1.3中增加了可以选择附录B 的OIT 试验,测得的氧化诱导时间应至少2min。(1997版A.4.1.3;本版的A.5.1.3);---A.5.1.4 中将前版切制五个样段的规定修改为至少三个(1997 版A4.1.4;本版的A.5.1.4);---A.5.2.1中填充膏预热温度的允许偏差由±1 ℃修改为±2 ℃(1997版A4.2.1;本版的A.5.2.1);---B.1删除了前版中本条文的第二段文字(1997版B1;本版的B.1);---B.2.1增加了能保持试验温度恒定在0.2K 以内(1997版B2.1;本版的B.2.1);---B.2.2中读数分度由1min修改为0.1min(1997版B2.2;本版的B.2.2);---B.3中对于适当数量的带导体试样增加了(如不同颜色的4个试样)的说明(1997版B3;本版的B.3);---B.4.2中将对作为温度基准材料的铟的重量规定修改为对试样重量的规定(1997版B4.2;本版的B.4.2);---B.6.2190℃~200℃的温度范围修改为200℃试验温度,增加了开始记录温谱图,增加了允许省略掉在氮气中预热程序,直接从试验温度开始,以简化操作。(1997 版B6.2;本版的B.6.2);---B.6.6中重复试验次数由4次修改为3次,于是所获温度曲线由5条修改为4条(1997版B6.6;本版的B.6.6);本部分的附录A 和附录B均为规范性附录。本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国电线电缆标准化技术委员会归口。本部分起草单位:上海电缆研究所。本部分主要起草人:李明珠、王申、朱永华、王春红、黄萱。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:---GB/T2951.9-1997;---GB2951.42-1994。
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