标准简介
本标准规定了倒装焊集成电路封装工艺中凸点共面性、凸点剪切力、芯片剪切拉脱力、焊点缺陷、底部填充缺陷等方面相关的物理试验方法。 本标准适用于陶瓷封装或塑料封装的倒装焊单片集成电路。英文名称:Test methods for flip chip integrated circuits
标准状态:现行
中标分类:电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
ICS分类:电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门:国家质量监督检验检疫.
发布日期:2018-03-15
实施日期:2018-08-01
页数:20页
前言
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