标准简介
英文名称：Compound semiconductive single crystals--Determination of crzystallographic orientation--X-ray diffraction method
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 1555-1997代替
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
实施日期：1989-07-01
作废日期：1998-08-01
页数：平装16开/页数：7/字数：8千字
前言
金属物理性能试验方法相关标准
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