SJ 1381-1978 实验二极管结构与工艺

百检网 2022-10-28

标准简介

本标准规定了板耗不大于5W、嵌缝结构、旁热式阴*，平板型实验二*管的结构、工艺和实验方法。只要用于鉴定阴*材料及工艺对发射性能的寿命的影响。
英文名称：Structure and technology of test diode
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L41半导体二*管
发布部门：第四机械工业部
发布日期：1979-07-01
实施日期：1979-07-01
作废日期：2010-01-20
页数：37页

前言

半导体二*管相关标准

百检能给您带来哪些改变？

1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；

2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；

3、工程师一对一服务，让检测更精准；

4、免费初检，初检不收取检测费用；

5、自助下单快递免费上门取样；

6、周期短，费用低，服务周到；

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；

8、检测报告权威有效、中国通用；

客户案例展示

上一篇《ZB J 22008-1988 液压软管总成技术条件》

下一篇《ZB J 22009-1989 柔性石墨板材密度测试方法》

版权与免责声明

①本网注名来源于“互联网”的所有作品，版权归原作者或者来源机构所有,如果有涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一个月内与本网联系，联系邮箱service@baijiantest.com，否则视为默认百检网有权进行转载。

②本网注名来源于“百检网”的所有作品，版权归百检网所有，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。想要转载本网作品，请联系:service@baijiantest.com。已获本网授权的作品，应在授权范围内使用，并注明"来源：百检网"。违者本网将追究相关法律责任。

③本网所载作品仅代表作者独立观点，不代表百检立场，用户需作出独立判断，如有异议或投诉，请联系service@baijiantest.com

相关资讯

最新资讯