SJ/T 11222-2000 集成电路卡通用规范 第3部分:测试方法

百检网 2022-10-28

标准简介

本规范规定了与ISO/IEC 7810给出的定义相适应的识别卡特性用的测试方法。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准,该基本标准可以是ISO/IEC 7810 或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术的补充标准。本规范定义了为一种或多种卡技术通用的测试方法。
英文名称:General specification for Integrated circuit cards Part 3: Test methods
标准状态:现行
中标分类:电子元器件与信息技术>>计算机>>L64数据媒体
ICS分类:信息技术、办公机械设备>>信息技术应用>>35.240.15识别卡和有关装置
发布日期:2000-05-30
实施日期:2000-10-01
作废日期:2011-08-15
页数:59页

前言

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