GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减 即将实施

标准号：GB/T 5095.2503-2021
中文标准名称：电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
英文标准名称：Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation
标准状态：即将实施,发布于2021-03-09; 实施于2021-10-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2021-03-09
实施日期：2021-10-01
中国标准分类号：31.220.10
国际标准分类号：31.220.10
归口单位：全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
执行单位：全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：四川华丰企业集团有限公司;中国电子技术标准化研究院
采标情况：本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60512-25-3：2001。
采标中文名称:电子设备用连接器 试验和测量 第25-3部分:试验25c：上升时间衰减。
相近标准：20121229-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减; GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）; 20121234-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）; GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则; GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比; GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延; GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗; 20121230-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延; 20121231-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗; 20121228-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比