GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法 现行

标准号：GB/T 37051-2018
中文标准名称：太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
英文标准名称：Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer
标准状态：现行,发布于2018-12-28; 实施于2019-04-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2018-12-28
实施日期：2019-04-01
中国标准分类号：29.045
国际标准分类号：29.045
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：英利集团有限公司;江西赛维LDK太阳能高科技有限公司;晋能清洁能源科技有限公司;天津英利新能源有限公司;中国电子技术标准化研究院;泰州中来光电科技有限公司;镇江仁德新能源科技有限公司
相近标准：20141879-T-469 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法; GB/T 25074-2017 太阳能级多晶硅; GB/T 25074-2010 太阳能级多晶硅; 20080034-T-469 太阳能级多晶硅; 20141898-T-469 太阳能级多晶硅; GB/T 29054-2012 太阳能级铸造多晶硅块; 20081138-T-469 太阳能级铸造多晶硅块; GB/T 29055-2019 太阳能电池用多晶硅片; 20162487-T-469 太阳能电池用多晶硅片; 太阳能电池用多晶硅片