GB/T 4937.19-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度 现行

标准号：GB/T 4937.19-2018
中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度
英文标准名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 19: Die shear strength
标准状态：现行,发布于2018-09-17; 实施于2019-01-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
中国标准分类号：31.080.01
国际标准分类号：31.080.01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所;深圳市标准技术研究院
采标情况：本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-19:2010。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度。
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