GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告 现行

标准号：GB/T 36401-2018
中文标准名称：表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
英文标准名称：Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of results of thin-film analysis
标准状态：现行,发布于2018-06-07; 实施于2019-05-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2018-06-07
实施日期：2019-05-01
中国标准分类号：71.040.40
国际标准分类号：71.040.40
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
执行单位：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：厦门荷清教育咨询有限公司;清华大学化学系
采标情况：本标准等同采用ISO国际标准：ISO 13424:2013。
采标中文名称:表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告。
相近标准：20151802-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告; 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告; GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南; 20121403-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南; 20201568-T-469 表面化学分析—电子能谱—X射线光电子能谱峰拟合的*低报告要求; 表面化学分析—电子能谱—X射线光电子能谱峰拟合的*低报告要求; GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序; 20110878-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序; GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求; 20131697-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求