GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法 现行

标准号：GB/T 34002-2017
中文标准名称：微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
英文标准名称：Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
标准状态：现行,发布于2017-07-12; 实施于2018-06-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2017-07-12
实施日期：2018-06-01
中国标准分类号：71.040.40
国际标准分类号：71.040.40
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
执行单位：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：北京科技大学
采标情况：本标准等同采用ISO国际标准：ISO 29301:2010。
采标中文名称:微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法。
相近标准：20140650-T-469 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法; DB31/T 315-2004 透射电子显微镜放大倍率校准方法; DB31/T 297-2003 扫描电子显微镜放大倍率校准方法; GB/T 35098-2018 微束分析 透射电子显微术 植物病毒形态学的透射电子显微镜鉴定方法; 20153710-T-469 微束分析 透射电子显微术 植物病毒形态学的透射电子显微镜鉴定方法; 微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法; GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法; 20111324-T-469 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法; JY/T 0581-2020 透射电子显微镜分析方法通则; GB/T 18907-2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法