GB/T 22319.7-2015 石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量 现行

百检网 2021-05-26
标准号:GB/T 22319.7-2015
中文标准名称:石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量
英文标准名称:Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 7: Measurement of activity dips of quartz crystal units
标准状态:现行,发布于2015-06-02; 实施于2016-02-01; 废止
标准类型:国家标准
标准性质:推荐性
发布日期:2015-06-02
实施日期:2016-02-01
中国标准分类号:31.140
国际标准分类号:31.140
归口单位:全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
执行单位:全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
主管部门:工业和信息化部(电子)
起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会;唐山晶源裕丰电子股份有限公司;南京中电熊猫晶体科技有限公司;郑州原创电子科技有限公司
采标情况:本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60444-7:2004。
采标中文名称:石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元件活性跳变和频率跳变的测量。
相近标准:20100056-T-339 石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量; GB/T 22319.9-2018 石英晶体元件参数的测量 第9部分:石英晶体元件寄生谐振的测量; 20141025-T-339 石英晶体元件参数的测量 第9部分:石英晶体元件寄生谐振的测量; 20030212-T-339 石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具; GB/T 22319.8-2008 石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具; 20202533-T-339 石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测试夹具; 石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测试夹具; SJ/T 10639-1995 石英晶体元件术语; GB/T 15020-1994 电子设备用石英晶体元件 空白详细规范 电阻焊石英晶体元件 评定水平 E; SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量

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