GB/T 22319.8-2008 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具 现行

标准号：GB/T 22319.8-2008
中文标准名称：石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
英文标准名称：Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
标准状态：现行,发布于2008-08-06; 实施于2009-01-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2008-08-06
实施日期：2009-01-01
中国标准分类号：31.140
国际标准分类号：31.140
归口单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
执行单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国电子元件行业协会压电晶体分会
采标情况：本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60444-8:2003。
采标中文名称:石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具。
相近标准：20030212-T-339 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具; 20202533-T-339 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测试夹具; 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测试夹具; GB/T 22319.9-2018 石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量; 20141025-T-339 石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量; GB/T 22319.7-2015 石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量; 20100056-T-339 石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量; SJ/T 10639-1995 石英晶体元件术语; GB/T 15020-1994 电子设备用石英晶体元件 空白详细规范 电阻焊石英晶体元件 评定水平 E; SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量