GB/T 8760-2006 砷化镓单晶位错密度的测量方法 现行

标准号：GB/T 8760-2006
中文标准名称：砷化镓单晶位错密度的测量方法
英文标准名称：Gallium arsenide single crystal-determination of dislocation density
标准状态：现行,发布于2006-07-18; 实施于2006-11-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2006-07-18
实施日期：2006-11-01
中国标准分类号：77.040.01
国际标准分类号：77.040.01
归口单位：中国有色金属工业协会
执行单位：中国有色金属工业协会
主管部门：中国有色金属工业协会
起草单位：北京有色金属研究总院
全部替代标准：GB/T 8760-1988
被以下标准代替：被GB/T8760-2020GB/T8760-2020全部代替
相近标准：GB/T 8760-1988 砷化镓单晶位错密度的测量方法; 20021943-T-610 砷化镓单晶位错密度的测量方法; GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法; 20173473-T-610 砷化镓单晶位错密度的测试方法; 砷化镓单晶位错密度的测试方法; GB/T 33763-2017 蓝宝石单晶位错密度测量方法; GB/T 5252-1985 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法; 20120280-T-469 蓝宝石单晶位错密度测量方法; 20021940-T-610 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法; GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法