标准号：CNS 3998-1989
中文标准名称：小信号用二*半导体检验法
英文标准名称：Method of Test for Small Signal Diodes
中国标准分类号：L41
国际标准分类号：31.080.119.
标准依据：台标2017/02/18公告
适用范围：本标准规定电子装置中检波开关动作混波等所用小信号二*体（以下简称二*体）之检验法。
CNS 3998-1989 小信号用二极半导体检验法
百检网 2021-07-13
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