GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

百检网 2021-07-14
标准号:GB/T 14030-1992
中文标准名称:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
英文标准名称:General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
标准类型:L55
发布日期:1992/12/17 12:00:00
实施日期:1993/8/1 12:00:00
中国标准分类号:L55
国际标准分类号:31.200
适用范围: 本标准规定了半导体集成电路时基电路(以下简称器件或时基电路)电参数测试方法的基本原理

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