KS D 0257-2002 光电导衰减测量法测定硅单晶体少数载流子寿命的方法

百检网 2021-07-14

标准号：KS D 0257-2002
中文标准名称：光电导衰减测量法测定硅单晶体少数载流子寿命的方法
英文标准名称：Measuring of minority - carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
标准类型：H81
发布日期：2002/5/29 12:00:00
实施日期：2002/5/29 12:00:00
中国标准分类号：H81
国际标准分类号：29.045
适用范围：이 규격은 실리콘 단결정 중의 소수 캐리어의 벌크 재결합 수명(이하 벌크 수명 또는 tB라

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