GB/T 4937.4-2012 半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）现行

百检网 2021-07-15

标准号：GB/T 4937.4-2012
中文标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
标准状态：现行
发布日期：2012-11-05
实施日期：2013-02-15
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

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