SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

标准号：SJ/T 11394-2009
中文标准名称：半导体发光二*管测试方法
英文标准名称：Measure methods of semiconductor light emitting diodes
标准类型：L41;L45
发布日期：2009/11/17 12:00:00
实施日期：2010/1/1 12:00:00
中国标准分类号：L41;L45
国际标准分类号：31.260
引用标准：GB/T 3977-2001;GB/T 4365-2003;GB/T 5698-2001;GB/T 5702-2003;GB/T 7921-1997;GB/T 7922-2003;GB/T 11499-2001;GB/T 15651-1995;CIE 127-1997;ANSI/ESD STM 5.1-2001;ANSI/ESD STM 5.2-1999
适用范围：本标准规定了半导体发光二*管（以下简称器件）的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。本标准适用于可见光、白光半导体发光二*管。紫外发射二*管、红外发射二*管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行。