标准号：GB/T 14863-2013
中文标准名称：用栅控和非栅控二*管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法
英文标准名称：Method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
标准类型：国家标准
发布日期：2013/12/31 12:00:00
实施日期：2014/8/15 12:00:00
中国标准分类号：中国电子科技集团公司第四十六研究所
国际标准分类号：29.045
归口单位：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：信息产业部专用材料质量监督检验中心
起草人：董颜辉
相近标准：;GB/T 14863-1993
;20063926-T-339 用栅控和非栅控二*管
GB/T 14863-2013 用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法
百检网 2021-07-21
百检能给您带来哪些改变？
1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；
2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；
3、工程师一对一服务，让检测更精准；
4、免费初检，初检不收取检测费用；
5、自助下单 快递免费上门取样；
6、周期短，费用低，服务周到；
7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；
8、检测报告权威有效、中国通用；
客户案例展示
相关商品
版权与免责声明
①本网注名来源于“互联网”的所有作品，版权归原作者或者来源机构所有,如果有涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一个月内与本网联系，联系邮箱service@baijiantest.com，否则视为默认百检网有权进行转载。
②本网注名来源于“百检网”的所有作品，版权归百检网所有，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。想要转载本网作品，请联系:service@baijiantest.com。已获本网授权的作品，应在授权范围内使用，并注明"来源：百检网"。违者本网将追究相关法律责任。
③本网所载作品仅代表作者独立观点，不代表百检立场，用户需作出独立判断，如有异议或投诉，请联系service@baijiantest.com
相关问答
最新资讯
客服热线
400-101-7153
专属服务：156 0190 2607
企业邮箱： service@baijiantest.com