标准号：GB/T 23413-2009
中文标准名称：纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法
英文标准名称：Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials.X-ray diffraction line broadening method
标准类型：N78
发布日期：2009/4/1 12:00:00
实施日期：2009/12/1 12:00:00
中国标准分类号：N78
国际标准分类号：19.100
引用标准：GBW(E)130014;GBW(E)130016
适用范围：本标准规定了利用x射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm，微观应变一般不大于0. 1%的纳米材料。
GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法
百检网 2021-07-29
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