GJB 2649A-2011 军用电子元件失效率抽样方案和程序

标准号：GJB 2649A-2011
中文标准名称：军用电子元件失效率抽样方案和程序
英文标准名称：Failure rate sampling plans and procedures for military electronic component parts
标准类型：L10
发布日期：2011/12/25 12:00:00
实施日期：2012/4/1 12:00:00
中国标准分类号：L10
引用标准：GB/T 3358.1;GB/T 3358.2;GB/T 3358.3;GJB 451;GJB 546
适用范围：本标准规定了按选定的置信度确定和维持失效率等级的抽样方案，以及失效率等级的鉴定和批一致性检验程序。本标准规定的表格和数值以指数分布作依据，某些元件（如电容器）允许以威布尔分布作依据，但须经鉴定机构批准。电子元件的设计应基本相同，生产应基本连接，生产工艺控制应符合GJB 546《电子元器件质量保证大纲》的规定。本标准适用于有失效率等级的军用电子元件产品规范中规定的失效率试验。