标准号：EJ/T 1184-2005
中文标准名称：贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定
英文标准名称：Determination of micro silicon in depleted uranium tetrafluoride by spectrophotometric method
标准类型：F46
发布日期：2005/4/11 12:00:00
实施日期：2005/7/1 12:00:00
中国标准分类号：F46
国际标准分类号：27.120.30
适用范围： 本标准规定了分光光度法测定贫化四氟化铀中微量硅的方法原理、试剂、仪器、分析步骤、结果计算和方法的精密度。 本标准适用于贫化四氟化铀中微量硅的测定，其它丰度的四氟化铀中微量硅的测定可参照使用。 当取祥量为0.25g四氟化铀时，硅的测定范围为：(10～120)μg/g。在测量范围内，40μg磷、3μg耐不干扰硅的测定。
EJ/T 1184-2005 贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定
百检网 2021-08-02
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